PIXE

PIXE (Proton Induced X-ray Emission) 

- Projektile: Protonen

- Nachweis der charakteristischen Röntgenstrahlung

- Ortsauflösung (Strahldurchmesser): 1 µm bis 1 mm

- Zerstörungs- und standardfreie Bestimmung der Elementgehalte für alle
  Elemente mit einer Ordnungszahl ab Z = 13 (Al) bis Z = 92 (U)

- Informationstiefe (10 bis 15) µm

- Nachweisempfindlichkeit: ppm-Bereich (10-6 g/g)

  ==> Faktor 1000 empfindlicher im Vergleich zum
          Rasterelektronenmikroskop

- Bestimmen der Konzentrations-Tiefenprofile von Haupt- und  Spurenelementen am
  metallographischen Schliff durch Scannen mit dem Ionenstrahl

- Externer Strahl: Untersuchung von nicht vakuumbeständigen Proben an der Luft
                               bzw. in einer Gasatmosphäre


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 Zuletzt geändert am Freitag, 17. Januar 2002